原液粒度及Zeta電位分析儀在材料科學、生物醫(yī)藥、半導體等多個領域扮演著重要角色，其工作原理基于精密的物理和化學原理。下面，我們將詳細科普這兩種分析儀的工作原理。

　　一、原液粒度分析儀工作原理

　　原液粒度分析儀主要采用斯托克斯定律(Stokes' Law)和光散射原理進行粒度分析。斯托克斯定律描述了顆粒在流體中的沉降速度與顆粒尺寸、密度以及流體粘度之間的關系。具體來說，顆粒在流體中的沉降速度與顆粒的直徑的平方成正比，與顆粒的密度和流體的粘度成反比。因此，通過測量顆粒在流體中的沉降速度，可以間接地計算出顆粒的尺寸分布。

　　在實際操作中，首先將待測顆粒樣品與適量的流體混合，然后將混合物注入粒度分析儀的測量室內(nèi)。測量室內(nèi)設有激光器和光敏探測器，激光器發(fā)出的激光束穿過測量室。當顆粒通過激光束時，會散射出光信號，這些光信號被光敏探測器捕獲。通過分析捕獲的光信號，可以得到顆粒在流體中的沉降速度，進而計算出顆粒的尺寸分布。

　　二、Zeta電位分析儀工作原理

　　Zeta電位分析儀則采用電泳光散射原理。其工作原理是帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產(chǎn)生頻率漂移(多普勒頻移)。通過采用頻譜漂移分析技術，可以計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

　　具體來說，Zeta電位分析儀會先對待測樣品進行電場處理，使樣品中的帶電顆粒發(fā)生電泳運動。然后，通過激光器和光敏探測器測量顆粒在電場中的運動情況，即散射光的頻率漂移。根據(jù)這些數(shù)據(jù)，分析儀可以計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位，從而了解樣品的表面電荷性質(zhì)和穩(wěn)定性。

　　原液粒度及Zeta電位分析儀的工作原理基于精密的物理和化學原理，通過測量和分析顆粒在流體中的沉降速度或電泳運動情況，可以得出顆粒的尺寸分布和表面電荷性質(zhì)等重要信息。這些信息對于材料科學、生物醫(yī)藥、半導體等領域的研究和應用具有重要意義。